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反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410150339.3
申请日：
2024-02-02
公开(公告)号：
CN118168657A
公开(公告)日：
2024-06-11
发明(设计)人：
吴晋龙
刘海军
韩浩
申请人：
上海昊量光电设备有限公司
申请人地址：
201103 上海市徐汇区虹梅路2007号上海远中产业园三期6号楼3楼
IPC主分类号：
G01J3/28
IPC分类号：
G01J3/02
代理机构：
北京高沃律师事务所 11569
代理人：
常祖正
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-03 | 授权 | 授权 |
| 2024-06-28 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/28申请日:20240202 |
| 2024-06-11 | 公开 | 公开 |