反射光谱测量支架(R型)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202430643570.7
申请日
2024-10-12
公开(公告)号
CN309323158S
公开(公告)日
2025-06-06
发明(设计)人
项国平 项国斐
申请人
杭州晶飞科技有限公司
申请人地址
310000 浙江省杭州市西湖区西园路8号3幢311室
IPC主分类号
10-04
IPC分类号
代理机构
杭州杭奕专利代理事务所(普通合伙) 33535
代理人
卢雪梅
法律状态
授权
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P]. 
吴晋龙 ;
刘海军 ;
韩浩 .
中国专利 :CN118168657B ,2024-12-03
[2]
反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P]. 
吴晋龙 ;
刘海军 ;
韩浩 .
中国专利 :CN118168657A ,2024-06-11
[3]
新型反射光谱测量装置 [P]. 
蔡成周 .
中国专利 :CN207586124U ,2018-07-06
[4]
漫反射光谱测量装置 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
李胜 ;
汤海涛 ;
赵丕成 .
中国专利 :CN209745812U ,2019-12-06
[5]
新型透反射光谱测量仪 [P]. 
王圣浩 ;
吴福林 ;
刘世杰 .
中国专利 :CN216483509U ,2022-05-10
[6]
漫反射光谱测量装置及测量方法 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
李胜 ;
赵丕成 ;
汤海涛 .
中国专利 :CN109444082B ,2024-06-07
[7]
漫反射光谱测量装置及测量方法 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
李胜 ;
赵丕成 ;
汤海涛 .
中国专利 :CN109444082A ,2019-03-08
[8]
一种反射光谱测量光路 [P]. 
万文武 ;
吴晋龙 ;
刘海军 .
中国专利 :CN223435904U ,2025-10-14
[9]
一种气体响应反射光谱测量系统 [P]. 
凡俊 .
中国专利 :CN107607479A ,2018-01-19
[10]
一种改进型的漫反射光谱测量装置 [P]. 
王贵 .
中国专利 :CN213364581U ,2021-06-04