图案测定方法、图案测定装置以及利用其的程序

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专利类型
发明
申请号
CN201180050911.X
申请日
2011-10-14
公开(公告)号
CN103180690A
公开(公告)日
2013-06-26
发明(设计)人
笹岛二大 木村嘉宏
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01B1504
IPC分类号
H01L2166
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
吴秋明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
图案的偏差测定方法以及图案测定装置 [P]. 
酢谷拓路 ;
松冈良一 ;
诸熊秀俊 ;
杉山明之 ;
新藤博之 .
中国专利 :CN101135556B ,2008-03-05
[2]
图案尺寸测定装置和图案面积测定方法 [P]. 
松本纯 .
中国专利 :CN101523155A ,2009-09-02
[3]
测定装置、测定方法、以及测定程序 [P]. 
平野朝士 ;
樋口刚司 .
中国专利 :CN112261901A ,2021-01-22
[4]
测定装置、测定方法以及程序 [P]. 
石原元太郎 ;
松川弘明 .
日本专利 :CN118999783A ,2024-11-22
[5]
测定方法、测定装置以及程序 [P]. 
相川文明 ;
丸山泰右 ;
江波翔 .
日本专利 :CN119213288A ,2024-12-27
[6]
测定装置、测定方法以及程序 [P]. 
高地邦明 ;
村田寿子 ;
押领司诚 ;
春川阳一 ;
海和彻 ;
内田孝之 .
日本专利 :CN119212616A ,2024-12-27
[7]
测定装置、测定方法、以及程序 [P]. 
坂上智 ;
木代雅巳 ;
新井聪一 .
中国专利 :CN107278264A ,2017-10-20
[8]
测定装置、测定方法以及程序 [P]. 
北川雄真 ;
猿谷敏之 .
日本专利 :CN120721679A ,2025-09-30
[9]
沟槽图案的深度的测定方法和测定装置 [P]. 
山口真二 ;
堀江正浩 .
中国专利 :CN101131318A ,2008-02-27
[10]
测定系统、测定装置、测定方法以及程序 [P]. 
长冈英一 ;
胜田敏広 .
中国专利 :CN113227719A ,2021-08-06