定制化显微测量系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810616296.8

申请日：

2018-06-14

公开(公告)号：

CN108662981A

公开(公告)日：

2018-10-16

发明(设计)人：

张维山鲁飞宇

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山市陆家镇陆丰西路125号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-14	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/00 申请公布日:20181016
2018-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20180614
2018-10-16	公开	公开

共 50 条

[1]

TWAIN标准显微测量系统及测量方法 [P].

张维山 ;

鲁飞宇 .

中国专利 :CN108827146A ,2018-11-16

[2]

DSHOW标准显微测量系统及测量方法 [P].

张维山 ;

鲁飞宇 .

中国专利 :CN108445618A ,2018-08-24

[3]

一种显微测量系统及显微测量方法 [P].

李红兵 ;

刘娜娜 ;

李海宏 ;

陈雪丹 .

中国专利 :CN111678429B ,2020-09-18

[4]

一种显微测量系统和显微测量方法 [P].

黄秀金 ;

方仲平 ;

陈洪明 .

中国专利 :CN120467177A ,2025-08-12

[5]

高效多平台显微测量方法 [P].

张维山 ;

鲁飞宇 .

中国专利 :CN109029247A ,2018-12-18

[6]

基于直线测定的多平台显微测量系统 [P].

张维山 ;

鲁飞宇 .

中国专利 :CN108830914A ,2018-11-16

[7]

测量方法及测量系统 [P].

张孟卓 ;

薛霞铭 ;

谷文举 ;

张丽炜 ;

曹倩 ;

陈纪喆 .

中国专利 :CN120594335A ,2025-09-05

[8]

测量方法及测量系统 [P].

易致礼 ;

沈晴鹤 ;

张骏 .

中国专利 :CN115143883A ,2022-10-04

[9]

测量系统及测量方法 [P].

高明祺 ;

林毅俊 ;

王顺星 ;

陈柏徵 .

中国专利 :CN102269643A ,2011-12-07

[10]

测量系统及测量方法 [P].

张泓恺 ;

苏忠耀 ;

张秋贤 .

中国专利 :CN103575983B ,2014-02-12

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