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测量方法及测量系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510825889.5
申请日：
2025-06-19
公开(公告)号：
CN120594335A
公开(公告)日：
2025-09-05
发明(设计)人：
张孟卓 薛霞铭 谷文举 张丽炜 曹倩 陈纪喆
申请人：
浙江正泰电器股份有限公司
申请人地址：
325603 浙江省温州市乐清市北白象镇正泰工业园区正泰路1号
IPC主分类号：
G01N13/02
IPC分类号：
G01B11/30 G01B5/28
代理机构：
北京远智汇知识产权代理有限公司 11659
代理人：
杨帅
法律状态：
公开
国省代码：
黑龙江省 哈尔滨市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-05 公开 公开
2025-09-23 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 13/02申请日:20250619
共 50 条
[1]
测量容器、测量系统及测量方法 [P]. 
井上胜 ;
大薮范昭 .
中国专利 :CN111727370A ,2020-09-29
[2]
测量装置、测量系统及测量方法 [P]. 
石冢悠也 .
日本专利 :CN120813812A ,2025-10-17
[3]
测量系统、测量装置及测量方法 [P]. 
宫川智树 .
日本专利 :CN120958292A ,2025-11-14
[4]
测量装置、测量系统及测量方法 [P]. 
大森启史 .
中国专利 :CN111521247A ,2020-08-11
[5]
测量装置、测量系统及测量方法 [P]. 
松田京子 ;
足立佳久 ;
奥村哲也 .
日本专利 :CN119033330A ,2024-11-29
[6]
厚度测量系统及测量方法 [P]. 
汤灿东 ;
罗家明 ;
吴伟平 .
中国专利 :CN119146905A ,2024-12-17
[7]
测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P]. 
福家康隆 ;
小松洋音 ;
关根裕一 ;
依田秀夫 ;
小寺寿一 ;
齐藤英治 ;
小林新一 .
日本专利 :CN115362363B ,2025-06-17
[8]
测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P]. 
福家康隆 ;
小松洋音 ;
关根裕一 ;
依田秀夫 ;
小寺寿一 ;
齐藤英治 ;
小林新一 .
中国专利 :CN115362363A ,2022-11-18
[9]
测量方法及测量系统 [P]. 
易致礼 ;
沈晴鹤 ;
张骏 .
中国专利 :CN115143883A ,2022-10-04
[10]
测量系统及测量方法 [P]. 
高明祺 ;
林毅俊 ;
王顺星 ;
陈柏徵 .
中国专利 :CN102269643A ,2011-12-07
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