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测量装置、测量系统及测量方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202480016421.5
申请日：
2024-02-09
公开(公告)号：
CN120813812A
公开(公告)日：
2025-10-17
发明(设计)人：
石冢悠也
申请人：
富士胶片株式会社
申请人地址：
日本
IPC主分类号：
G01B11/30
IPC分类号：
G01C7/06 G01C15/00 G01S17/34
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
柯瑞京
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-04 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/30申请日:20240209
2025-10-17 公开 公开
共 50 条
[1]
测量系统、测量装置及测量方法 [P]. 
宫川智树 .
日本专利 :CN120958292A ,2025-11-14
[2]
测量装置、测量系统及测量方法 [P]. 
大森启史 .
中国专利 :CN111521247A ,2020-08-11
[3]
测量装置、测量系统及测量方法 [P]. 
松田京子 ;
足立佳久 ;
奥村哲也 .
日本专利 :CN119033330A ,2024-11-29
[4]
移位测量装置、测量系统及移位测量方法 [P]. 
近藤智则 ;
铃木祐太 ;
的场贤一 .
中国专利 :CN109556518A ,2019-04-02
[5]
测量装置、测量系统以及测量方法 [P]. 
渡边义浩 ;
石川正俊 ;
加地宏乃介 .
日本专利 :CN112771367B ,2025-02-11
[6]
测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P]. 
福家康隆 ;
小松洋音 ;
关根裕一 ;
依田秀夫 ;
小寺寿一 ;
齐藤英治 ;
小林新一 .
日本专利 :CN115362363B ,2025-06-17
[7]
测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P]. 
福家康隆 ;
小松洋音 ;
关根裕一 ;
依田秀夫 ;
小寺寿一 ;
齐藤英治 ;
小林新一 .
中国专利 :CN115362363A ,2022-11-18
[8]
测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法 [P]. 
渡边义浩 ;
石川正俊 ;
加地宏乃介 .
中国专利 :CN112771367A ,2021-05-07
[9]
测量方法及测量系统 [P]. 
张孟卓 ;
薛霞铭 ;
谷文举 ;
张丽炜 ;
曹倩 ;
陈纪喆 .
中国专利 :CN120594335A ,2025-09-05
[10]
测量容器、测量系统及测量方法 [P]. 
井上胜 ;
大薮范昭 .
中国专利 :CN111727370A ,2020-09-29
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