检查装置、检查程序和检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980098423.2

申请日：

2019-07-25

公开(公告)号：

CN114127728A

公开(公告)日：

2022-03-01

发明(设计)人：

大竹由也野口智史

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G06F3020

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

马建军;徐丹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/20 申请日:20190725
2022-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

检查程序和检查装置 [P].

新井雅海 ;

河北薰 ;

平野龙一 .

日本专利 :CN121175557A ,2025-12-19

[2]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

木藤圭亮 ;

河内清人 ;

山本匠 ;

西川弘毅 .

中国专利 :CN112204528A ,2021-01-08

[3]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

饭田大贵 .

日本专利 :CN120396968A ,2025-08-01

[4]

基片检查方法、基片检查程序和基片检查装置 [P].

德丸达弥 ;

西山直 .

日本专利 :CN118355266A ,2024-07-16

[5]

基片检查方法、基片检查装置和基片检查程序 [P].

本田健太郎 ;

岩永修儿 ;

德丸达弥 .

日本专利 :CN120129829A ,2025-06-10

[6]

检查装置、检查系统以及检查程序 [P].

佐藤英典 ;

广濑佑介 ;

真锅崇宽 .

中国专利 :CN113340917A ,2021-09-03

[7]

图像检查装置、图像检查方法和图像检查程序 [P].

塚本恭正 .

中国专利 :CN111669470B ,2020-09-15

[8]

检查程序、检查系统以及检查装置 [P].

近藤创 ;

小林祐树 ;

青山高 ;

原大 .

日本专利 :CN117852944A ,2024-04-09

[9]

药片检查装置、药片检查方法、药片检查程序 [P].

藤田稔 ;

秦久典 ;

佐藤嘉隆 ;

奈良迫祐介 .

中国专利 :CN106104260B ,2016-11-09

[10]

管理装置、检查方法及检查程序 [P].

山本祐辅 ;

田中秀幸 ;

泉达也 ;

小方贤太 ;

萩原刚志 ;

浦山博史 ;

吴达玛万 ;

大津智弘 ;

菊地庆刚 ;

后藤英树 ;

山崎康広 ;

安田孝 .

日本专利 :CN117652132A ,2024-03-05

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