检查程序和检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380098513.8

申请日：

2023-05-24

公开(公告)号：

CN121175557A

公开(公告)日：

2025-12-19

发明(设计)人：

新井雅海河北薰平野龙一

申请人：

罗比特株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

杨俊波;于靖帅

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-19	公开	公开

共 50 条

[1]

检查装置、检查程序和检查方法 [P].

大竹由也 ;

野口智史 .

中国专利 :CN114127728A ,2022-03-01

[2]

检查装置、检查方法、检查程序、学习装置、学习方法和学习程序 [P].

西川敬士 ;

福井孝太郎 ;

小林翔一 ;

关哲朗 ;

长德典宏 .

日本专利 :CN120659979A ,2025-09-16

[3]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

木藤圭亮 ;

河内清人 ;

山本匠 ;

西川弘毅 .

中国专利 :CN112204528A ,2021-01-08

[4]

检查装置、检查系统以及检查程序 [P].

佐藤英典 ;

广濑佑介 ;

真锅崇宽 .

中国专利 :CN113340917A ,2021-09-03

[5]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

饭田大贵 .

日本专利 :CN120396968A ,2025-08-01

[6]

检查程序、检查系统以及检查装置 [P].

近藤创 ;

小林祐树 ;

青山高 ;

原大 .

日本专利 :CN117852944A ,2024-04-09

[7]

基片检查方法、基片检查程序和基片检查装置 [P].

德丸达弥 ;

西山直 .

日本专利 :CN118355266A ,2024-07-16

[8]

基片检查方法、基片检查装置和基片检查程序 [P].

本田健太郎 ;

岩永修儿 ;

德丸达弥 .

日本专利 :CN120129829A ,2025-06-10

[9]

图像检查装置、图像检查方法和图像检查程序 [P].

塚本恭正 .

中国专利 :CN111669470B ,2020-09-15

[10]

纸币检查装置、纸币检查方法及纸币检查程序 [P].

吉村和久 ;

丸山昭夫 .

中国专利 :CN112840383A ,2021-05-25

← 1 2 3 4 5 →