一种辉光放电质谱检测高纯银样品的制样方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010819715.5

申请日：

2020-08-14

公开(公告)号：

CN111964997A

公开(公告)日：

2020-11-20

发明(设计)人：

姚力军边逸军潘杰王学泽张梁

申请人：

申请人地址：

315400 浙江省宁波市余姚市经济开发区名邦科技工业园区安山路

IPC主分类号：

G01N132

IPC分类号：

G01N134 G01N144 G01N128 G01N2768

代理机构：

北京远智汇知识产权代理有限公司 11659

代理人：

王岩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-20	公开	公开
2020-12-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 1/32 申请日:20200814

共 50 条

[1]

一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法 [P].

唐永森 ;

李定明 .

中国专利 :CN115586049A ,2023-01-10

[2]

一种辉光放电质谱中高纯铟的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

来兴艳 .

中国专利 :CN113237945A ,2021-08-10

[3]

一种用于辉光放电质谱检测的制样方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

任聪聪 ;

钟伟华 ;

温毅博 .

中国专利 :CN119321935A ,2025-01-17

[4]

一种辉光放电质谱检测铝样品中碳含量的制样方法及检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

任聪聪 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN118706565A ,2024-09-27

[5]

一种辉光放电质谱检测铝样品中碳含量的制样方法及检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

任聪聪 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN118706565B ,2025-12-26

[6]

一种辉光放电质谱钛粉末的制样方法和检测方法 [P].

姚力军 ;

任聪聪 ;

王学泽 .

中国专利 :CN119334731A ,2025-01-21

[7]

一种辉光放电质谱中钼屑的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

叶科奇 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN113030237A ,2021-06-25

[8]

一种辉光放电质谱用样品夹 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

温毅博 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN212848303U ,2021-03-30

[9]

一种辉光放电质谱高纯镓测试方法 [P].

徐国军 ;

张蛟 ;

兰邦银 ;

蒋明伟 ;

杨谢行 .

中国专利 :CN113533493A ,2021-10-22

[10]

一种辉光放电质谱高纯镓测试方法 [P].

徐国军 ;

张蛟 ;

兰邦银 ;

蒋明伟 ;

杨谢行 .

中国专利 :CN113533493B ,2024-07-23

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