一种用于辉光放电质谱检测的制样方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411470611.2

申请日：

2024-10-21

公开(公告)号：

CN119321935A

公开(公告)日：

2025-01-17

发明(设计)人：

姚力军潘杰任聪聪钟伟华温毅博

申请人：

宁波江丰电子材料股份有限公司

申请人地址：

315400 浙江省宁波市余姚市经济开发区名邦科技工业园区安山路

IPC主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N1/34 G01N1/36 G01N1/44 G01N27/68

代理机构：

北京远智汇知识产权代理有限公司 11659

代理人：

刘春青

法律状态：

公开

国省代码：

河北省衡水市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-17	公开	公开
2025-02-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 1/28申请日:20241021

共 50 条

[1]

一种辉光放电质谱钛粉末的制样方法和检测方法 [P].

姚力军 ;

任聪聪 ;

王学泽 .

中国专利 :CN119334731A ,2025-01-21

[2]

一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法 [P].

唐永森 ;

李定明 .

中国专利 :CN115586049A ,2023-01-10

[3]

一种辉光放电质谱中高纯铟的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

来兴艳 .

中国专利 :CN113237945A ,2021-08-10

[4]

一种辉光放电质谱中钼屑的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

叶科奇 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN113030237A ,2021-06-25

[5]

一种辉光放电质谱检测高纯银样品的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

张梁 .

中国专利 :CN111964997A ,2020-11-20

[6]

一种辉光放电质谱检测稀土氟化物的制样方法和测试方法 [P].

张绘 ;

刘若辰 ;

付尚万 ;

谢杨洋 ;

李建 ;

房瑾 .

中国专利 :CN121026705A ,2025-11-28

[7]

一种铌粉末的辉光放电质谱检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

叶科奇 ;

钟伟华 ;

石春红 .

中国专利 :CN115524390A ,2022-12-27

[8]

一种钽粉末的辉光放电质谱检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

叶科奇 ;

钟伟华 ;

石春红 .

中国专利 :CN115436460A ,2022-12-06

[9]

一种用于辉光放电质谱检测低熔点材料的测试方法 [P].

孙娜 ;

李平 ;

蒋威 ;

徐娜 ;

陈文 ;

宋旭东 .

中国专利 :CN114034762B ,2024-03-01

[10]

一种用于辉光放电质谱检测低熔点材料的测试方法 [P].

孙娜 ;

李平 ;

蒋威 ;

徐娜 ;

陈文 ;

宋旭东 .

中国专利 :CN114034762A ,2022-02-11

← 1 2 3 4 5 →