一种射频测试结构及射频测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410127772.1

申请日：

2014-03-31

公开(公告)号：

CN104952850B

公开(公告)日：

2015-09-30

发明(设计)人：

陈威

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

H01L2166

代理机构：

北京市磐华律师事务所 11336

代理人：

董巍;高伟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-30	公开	公开
2018-02-06	授权	授权
2015-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101631735660 IPC(主分类):H01L 23/544 专利申请号:2014101277721 申请日:20140331

共 50 条

[1]

射频测试封装结构及射频测试方法 [P].

曾会艳 .

中国专利 :CN106841997A ,2017-06-13

[2]

射频测试电路、射频测试系统及射频测试方法 [P].

阳东 ;

黄渊球 ;

莫阳和 .

中国专利 :CN119109525A ,2024-12-10

[3]

射频测试焊盘及射频测试结构 [P].

王晓东 ;

任洁慧 ;

岳亚妹 ;

钱蔚宏 ;

王西宁 .

中国专利 :CN120933272A ,2025-11-11

[4]

射频测试系统及射频测试方法 [P].

何文卿 .

中国专利 :CN114839509A ,2022-08-02

[5]

射频测试装置及射频测试方法 [P].

高海燕 ;

魏云峰 ;

丁永胜 ;

景凯凯 .

中国专利 :CN109521356A ,2019-03-26

[6]

射频信号测试连接结构及射频信号测试优化方法 [P].

曹生法 ;

王浩 .

中国专利 :CN102013930A ,2011-04-13

[7]

一种射频测试针及射频测试设备 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN112230025A ,2021-01-15

[8]

一种射频测试电路及射频测试机 [P].

陈凯 ;

伍俊铨 ;

简子良 .

中国专利 :CN222321547U ,2025-01-07

[9]

一种射频测试针及射频测试设备 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN112230025B ,2024-12-13

[10]

一种射频测试针及射频测试设备 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN214122301U ,2021-09-03

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