射频测试焊盘及射频测试结构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410575147.7

申请日：

2024-05-09

公开(公告)号：

CN120933272A

公开(公告)日：

2025-11-11

发明(设计)人：

王晓东任洁慧岳亚妹钱蔚宏王西宁

申请人：

中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

H01L23/544

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

苗芬芬

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-11	公开	公开
2025-11-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01L 23/544申请日:20240509

共 50 条

[1]

射频测试封装结构及射频测试方法 [P].

曾会艳 .

中国专利 :CN106841997A ,2017-06-13

[2]

射频测试电路、射频测试系统及射频测试方法 [P].

阳东 ;

黄渊球 ;

莫阳和 .

中国专利 :CN119109525A ,2024-12-10

[3]

射频测试结构 [P].

陆峰 ;

袁俊 ;

郑朝生 ;

魏强 ;

钟树江 ;

刘显欢 .

中国专利 :CN221224933U ,2024-06-25

[4]

射频测试系统及射频测试方法 [P].

何文卿 .

中国专利 :CN114839509A ,2022-08-02

[5]

一种射频测试结构及射频测试方法 [P].

陈威 .

中国专利 :CN104952850B ,2015-09-30

[6]

用于射频测试的焊垫结构 [P].

许闵郁 ;

蔡承宗 ;

赖明安 ;

苏家弘 .

中国专利 :CN110312367A ,2019-10-08

[7]

射频测试机构及射频测试系统 [P].

连永昌 ;

白剑 ;

周雨 .

中国专利 :CN222167167U ,2024-12-13

[8]

射频测试装置及射频测试方法 [P].

高海燕 ;

魏云峰 ;

丁永胜 ;

景凯凯 .

中国专利 :CN109521356A ,2019-03-26

[9]

射频测试探针结构和射频测试系统 [P].

吕双 ;

翟巍 ;

邹广福 ;

杨欢 .

中国专利 :CN119716174A ,2025-03-28

[10]

除静电结构、射频测试治具及射频测试系统 [P].

付强辉 ;

张格平 ;

管泽亚 .

中国专利 :CN118413929A ,2024-07-30

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