光学测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921786506.4

申请日：

2019-10-23

公开(公告)号：

CN210834097U

公开(公告)日：

2020-06-23

发明(设计)人：

吴栋颖杨文献赵宇坤李雪飞陆书龙

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304

代理人：

孙伟峰;但念念

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学测试暗箱和光学测试系统 [P].

艾秋爽 ;

邱素艳 ;

董一帆 ;

俞熙仁 ;

袁丽娟 ;

向建军 ;

张莉 ;

廖且根 ;

叶梦珺 ;

张大文 .

中国专利 :CN220795050U ,2024-04-16

[2]

光学测试系统和光学测试方法 [P].

李远益 ;

郎海涛 ;

肖祥元 ;

周陈建 ;

杨佳 .

中国专利 :CN112051034B ,2020-12-08

[3]

光学测试方法及光学测试系统 [P].

李承宗 ;

罗益全 ;

林训鹏 ;

洪志明 .

中国专利 :CN109470159B ,2019-03-15

[4]

光学测试系统 [P].

黄志雷 ;

李丽 ;

王莉 .

中国专利 :CN118549093A ,2024-08-27

[5]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN114815188A ,2022-07-29

[6]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN213934372U ,2021-08-10

[7]

一种光学测试系统 [P].

王长东 .

中国专利 :CN205879495U ,2017-01-11

[8]

一种光学测试系统 [P].

张顺起 ;

陈建强 ;

刘爱江 ;

陈泽海 .

中国专利 :CN111239066A ,2020-06-05

[9]

一种光学测试系统 [P].

蒋伟楷 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN210089983U ,2020-02-18

[10]

高压Z扫描光学测试系统 [P].

潘凌云 ;

李静怡 ;

张宇 ;

崔田 .

中国专利 :CN214749720U ,2021-11-16

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