高压Z扫描光学测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120654205.7

申请日：

2021-03-31

公开(公告)号：

CN214749720U

公开(公告)日：

2021-11-16

发明(设计)人：

潘凌云李静怡张宇崔田

申请人：

申请人地址：

130000 吉林省长春市朝阳区前进大街2699号

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2117

代理机构：

南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256

代理人：

赵世发

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-16	授权	授权

共 50 条

[1]

Z扫描测试系统 [P].

程基超 ;

董星辰 ;

曾敏 ;

范静涛 .

中国专利 :CN119438136A ,2025-02-14

[2]

光学测试系统 [P].

吴栋颖 ;

杨文献 ;

赵宇坤 ;

李雪飞 ;

陆书龙 .

中国专利 :CN210834097U ,2020-06-23

[3]

一种Z扫描测试系统 [P].

靳延平 ;

卢春辉 ;

葛燕青 ;

徐新龙 .

中国专利 :CN221707278U ,2024-09-13

[4]

一种光学测试暗箱和光学测试系统 [P].

艾秋爽 ;

邱素艳 ;

董一帆 ;

俞熙仁 ;

袁丽娟 ;

向建军 ;

张莉 ;

廖且根 ;

叶梦珺 ;

张大文 .

中国专利 :CN220795050U ,2024-04-16

[5]

光学测试系统和光学测试方法 [P].

李远益 ;

郎海涛 ;

肖祥元 ;

周陈建 ;

杨佳 .

中国专利 :CN112051034B ,2020-12-08

[6]

光学测试方法及光学测试系统 [P].

李承宗 ;

罗益全 ;

林训鹏 ;

洪志明 .

中国专利 :CN109470159B ,2019-03-15

[7]

光学测试系统 [P].

黄志雷 ;

李丽 ;

王莉 .

中国专利 :CN118549093A ,2024-08-27

[8]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN114815188A ,2022-07-29

[9]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN213934372U ,2021-08-10

[10]

一种光学测试系统 [P].

王长东 .

中国专利 :CN205879495U ,2017-01-11

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