试样分析仪及试样分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810099785.7

申请日：

2008-06-11

公开(公告)号：

CN101324631A

公开(公告)日：

2008-12-17

发明(设计)人：

大谷俊宏元津和典松江美幸松井淳胜见宏则

申请人：

申请人地址：

日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

G01N3700

代理机构：

北京金之桥知识产权代理有限公司

代理人：

梁朝玉;刘良勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-02-22	授权	授权
2009-02-11	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-12-17	公开	公开

共 50 条

[1]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

芝田正治 .

中国专利 :CN101358960A ,2009-02-04

[2]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

长井孝明 ;

池田穣 ;

成定宪志 .

中国专利 :CN101545861B ,2009-09-30

[3]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

芝田正治 ;

吉田敬祥 .

中国专利 :CN101275962A ,2008-10-01

[4]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

平山英树 .

中国专利 :CN1945325B ,2007-04-11

[5]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

芝田正治 ;

吉田敬祥 .

中国专利 :CN104297503A ,2015-01-21

[6]

试样分析仪及试样分析方法 [P].

植野邦男 .

中国专利 :CN101382485B ,2009-03-11

[7]

试样分析仪 [P].

若宫裕二 ;

奥崎智裕 ;

竹原久人 .

中国专利 :CN101275961A ,2008-10-01

[8]

试样分析仪 [P].

若宫裕二 ;

奥崎智裕 ;

竹原久人 .

中国专利 :CN101275963B ,2008-10-01

[9]

试样分析仪 [P].

若宫裕二 ;

奥崎智裕 ;

竹原久人 .

中国专利 :CN101275960A ,2008-10-01

[10]

试样分析仪 [P].

堤田惠介 ;

柴田文江 ;

中岛真也 .

中国专利 :CN301642297S ,2011-08-10

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