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试样分析仪及试样分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200610141059.8
申请日
:
2006-09-28
公开(公告)号
:
CN1945325B
公开(公告)日
:
2007-04-11
发明(设计)人
:
平山英树
申请人
:
申请人地址
:
日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
IPC主分类号
:
G01N3348
IPC分类号
:
G01N3500
代理机构
:
北京市安伦律师事务所 11339
代理人
:
刘良勇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2011-08-10
授权
授权
2007-04-11
公开
公开
2007-06-06
实质审查的生效
实质审查的生效
共 50 条
[1]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
芝田正治
论文数:
0
引用数:
0
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0
芝田正治
.
中国专利
:CN101358960A
,2009-02-04
[2]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
芝田正治
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0
芝田正治
;
吉田敬祥
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吉田敬祥
.
中国专利
:CN101275962A
,2008-10-01
[3]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
芝田正治
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芝田正治
;
吉田敬祥
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吉田敬祥
.
中国专利
:CN104297503A
,2015-01-21
[4]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
长井孝明
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长井孝明
;
池田穣
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池田穣
;
成定宪志
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成定宪志
.
中国专利
:CN101545861B
,2009-09-30
[5]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
植野邦男
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植野邦男
.
中国专利
:CN101382485B
,2009-03-11
[6]
试样分析仪及试样分析方法
[P].
大谷俊宏
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大谷俊宏
;
元津和典
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元津和典
;
松江美幸
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松江美幸
;
松井淳
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松井淳
;
胜见宏则
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胜见宏则
.
中国专利
:CN101324631A
,2008-12-17
[7]
试样分析仪
[P].
若宫裕二
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若宫裕二
;
奥崎智裕
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奥崎智裕
;
竹原久人
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竹原久人
.
中国专利
:CN101275960A
,2008-10-01
[8]
试样分析仪
[P].
堤田惠介
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堤田惠介
;
柴田文江
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柴田文江
;
中岛真也
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中岛真也
.
中国专利
:CN301642297S
,2011-08-10
[9]
试样分析仪
[P].
柴田文江
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柴田文江
;
刘彦妍
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刘彦妍
.
中国专利
:CN307842579S
,2023-02-14
[10]
试样分析仪
[P].
藤野裕之
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藤野裕之
;
藤田教藏
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藤田教藏
;
伊藤满代
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伊藤满代
.
中国专利
:CN101126762B
,2008-02-20
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