一种升降机构及芯片测试设备

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专利类型
实用新型
申请号
CN201920677338.9
申请日
2019-05-13
公开(公告)号
CN209909441U
公开(公告)日
2020-01-07
发明(设计)人
张磊
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区港田路青丘街青丘巷8号
IPC主分类号
F16M1104
IPC分类号
F16M1118 B66F702
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
胡彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙征 .
中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30
[2]
一种芯片测试设备 [P]. 
张学伟 .
中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20
[3]
一种芯片测试设备的芯片传输机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223087087U ,2025-07-11
[4]
一种芯片测试设备的测试机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01
[5]
一种CSP芯片测试用的探针测试装置及CSP芯片测试设备 [P]. 
孙名瑞 ;
朱剑飞 ;
何琦 .
中国专利 :CN220509084U ,2024-02-20
[6]
一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P]. 
张爱林 .
中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15
[7]
一种芯片测试传动模组及测试设备 [P]. 
刘飞 ;
唐召来 ;
吴海裕 ;
黎满标 .
中国专利 :CN222433518U ,2025-02-07
[8]
一种测试设备手动升降机构 [P]. 
张心明 ;
戴正国 ;
房洪蛟 ;
李俊烨 ;
王德民 ;
杨琦 ;
刘建河 ;
沈军 .
中国专利 :CN205066920U ,2016-03-02
[9]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[10]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18