一种芯片测试设备的芯片传输机构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421985214.4
申请日
2024-08-15
公开(公告)号
CN223087087U
公开(公告)日
2025-07-11
发明(设计)人
张治强 杨师 苏允康
申请人
广东长兴半导体科技有限公司
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室
IPC主分类号
B65G47/91
IPC分类号
代理机构
东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803
代理人
谢晓云
法律状态
授权
国省代码
广东省 东莞市
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备的料盘传输机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN222934605U ,2025-06-03
[2]
一种芯片测试设备的测试机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01
[3]
芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN121020133A ,2025-11-28
[4]
一种基于芯片测试设备的定位机构 [P]. 
陈荣峰 .
中国专利 :CN215575493U ,2022-01-18
[5]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陶云彬 .
中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
张学伟 .
中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
朱家俊 .
中国专利 :CN223650687U ,2025-12-09