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一种芯片测试设备的料盘传输机构

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421985232.2
申请日：
2024-08-15
公开(公告)号：
CN222934605U
公开(公告)日：
2025-06-03
发明(设计)人：
张治强 杨师 苏允康
申请人：
广东长兴半导体科技有限公司
申请人地址：
523000 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室
IPC主分类号：
B65G37/02
IPC分类号：
B65G35/00 B65G47/74 B65G57/30
代理机构：
东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803
代理人：
谢晓云
法律状态：
授权
国省代码：
广东省 东莞市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-03 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试设备的芯片传输机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223087087U ,2025-07-11
[2]
料盘扫码机构及芯片测试设备 [P]. 
万志炳 ;
黄先伟 .
中国专利 :CN217534362U ,2022-10-04
[3]
一种芯片测试设备的测试机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01
[4]
料盘传输装置及芯片测试设备 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 ;
缪凯 ;
贾勇 .
中国专利 :CN213568483U ,2021-06-29
[5]
一种芯片测试装置的料盘输送机构 [P]. 
陈俊安 ;
刘涛 ;
何伟福 .
中国专利 :CN222137985U ,2024-12-10
[6]
芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN121020133A ,2025-11-28
[7]
一种升降机构及芯片测试设备 [P]. 
张磊 .
中国专利 :CN209909441U ,2020-01-07
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08
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