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一种芯片测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202520289270.2
申请日：
2025-02-24
公开(公告)号：
CN223650687U
公开(公告)日：
2025-12-09
发明(设计)人：
朱家俊
申请人：
上海旭昇高科技有限公司
申请人地址：
201100 上海市闵行区中春路988号11幢2楼
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
G01R1/02
代理机构：
温州市兴瓯步创知识产权代理事务所(普通合伙) 33494
代理人：
侯克邦
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-12-09 | 授权 | 授权 |