一种芯片测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421627174.6
申请日
2024-07-08
公开(公告)号
CN222813318U
公开(公告)日
2025-04-29
发明(设计)人
谭少鹏
申请人
深圳市德明利技术股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋2301、2401、2501
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
G11C29/50
代理机构
深圳市深可信专利代理有限公司 44599
代理人
朱德伟
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[2]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[3]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[4]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08
[5]
一种芯片测试设备 [P]. 
陶云彬 .
中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
张学伟 .
中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
朱家俊 .
中国专利 :CN223650687U ,2025-12-09
[8]
一种感光芯片测试设备 [P]. 
胡依光 ;
刘健康 .
中国专利 :CN206671488U ,2017-11-24
[9]
一种芯片测试设备的芯片传输机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223087087U ,2025-07-11
[10]
一种芯片测试设备的测试机构 [P]. 
张治强 ;
杨师 ;
苏允康 .
中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01