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一种芯片测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202421627174.6
申请日
:
2024-07-08
公开(公告)号
:
CN222813318U
公开(公告)日
:
2025-04-29
发明(设计)人
:
谭少鹏
申请人
:
深圳市德明利技术股份有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋2301、2401、2501
IPC主分类号
:
G11C29/56
IPC分类号
:
G11C29/50
代理机构
:
深圳市深可信专利代理有限公司 44599
代理人
:
朱德伟
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-29
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试设备及芯片测试系统
[P].
吴永红
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
黄建军
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
黄建军
;
赵山
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
陈建丛
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
孙钦华
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙钦华
.
中国专利
:CN222354016U
,2025-01-14
[2]
一种芯片测试设备
[P].
徐银森
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
徐银森
;
林佳
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
林佳
;
罗双武
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
罗双武
;
黄海霞
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
黄海霞
.
中国专利
:CN223333757U
,2025-09-12
[3]
一种芯片测试设备
[P].
陈建从
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建从
;
唐仁伟
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
唐仁伟
;
吴永红
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
孙成扬
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙成扬
.
中国专利
:CN223244755U
,2025-08-19
[4]
一种芯片测试设备
[P].
孙成扬
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙成扬
;
文根发
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
文根发
.
中国专利
:CN223205615U
,2025-08-08
[5]
一种芯片测试设备
[P].
陶云彬
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机构:
上海凌耘微电子有限公司
上海凌耘微电子有限公司
陶云彬
.
中国专利
:CN220438494U
,2024-02-02
[6]
一种芯片测试设备
[P].
张学伟
论文数:
0
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0
张学伟
.
中国专利
:CN218350320U
,2023-01-20
[7]
一种芯片测试设备
[P].
朱家俊
论文数:
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机构:
上海旭昇高科技有限公司
上海旭昇高科技有限公司
朱家俊
.
中国专利
:CN223650687U
,2025-12-09
[8]
一种感光芯片测试设备
[P].
胡依光
论文数:
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胡依光
;
刘健康
论文数:
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刘健康
.
中国专利
:CN206671488U
,2017-11-24
[9]
一种芯片测试设备的芯片传输机构
[P].
张治强
论文数:
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张治强
;
杨师
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
杨师
;
苏允康
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
苏允康
.
中国专利
:CN223087087U
,2025-07-11
[10]
一种芯片测试设备的测试机构
[P].
张治强
论文数:
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张治强
;
杨师
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
杨师
;
苏允康
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
苏允康
.
中国专利
:CN223051462U
,2025-07-01
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