用于EUV光刻的表膜

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202080027740.8
申请日
2020-03-23
公开(公告)号
CN113646697A
公开(公告)日
2021-11-12
发明(设计)人
A·沙菲科夫 F·毕爵柯克 B·斯科林克 J·M·斯特姆 R·W·E·范德克鲁伊爵斯
申请人
申请人地址
荷兰维德霍温
IPC主分类号
G03F162
IPC分类号
G03F720
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
胡良均
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
用于EUV光刻的表膜 [P]. 
保罗·亚历山大·维梅伦 ;
V·D·希尔德布兰德 ;
I·唐梅兹诺扬 .
:CN118891582A ,2024-11-01
[2]
用于EUV光刻术的表膜 [P]. 
D·德格拉夫 ;
R·博德里 ;
M·比龙 ;
保罗·詹森 ;
T·卡特 ;
K·科尔内森 ;
M·A·J·库伊肯 ;
J·H·W·昆特泽 ;
S·马特尔 ;
马克西姆·A·纳萨勒维奇 ;
G·萨尔玛索 ;
彼得-詹·范兹沃勒 .
中国专利 :CN112041743A ,2020-12-04
[3]
用于EUV光刻术的表膜 [P]. 
D·德格拉夫 ;
R·博德里 ;
M·比龙 ;
保罗·詹森 ;
T·卡特 ;
K·科尔内森 ;
M·A·J·库伊肯 ;
J·H·W·昆特泽 ;
S·马特尔 ;
马克西姆·A·纳萨勒维奇 ;
G·萨尔玛索 ;
彼得-詹·范兹沃勒 .
:CN120010178A ,2025-05-16
[4]
用于EUV光刻术的表膜 [P]. 
D·德格拉夫 ;
R·博德里 ;
M·比龙 ;
保罗·詹森 ;
T·卡特 ;
K·科尔内森 ;
M·A·J·库伊肯 ;
J·H·W·昆特泽 ;
S·马特尔 ;
马克西姆·A·纳萨勒维奇 ;
G·萨尔玛索 ;
彼得-詹·范兹沃勒 .
:CN112041743B ,2025-04-11
[5]
用于EUV光刻的护膜 [P]. 
洪朱憙 ;
朴铁均 ;
崔文洙 ;
金东会 .
韩国专利 :CN117471844A ,2024-01-30
[6]
EUV光刻用表膜及其制造方法 [P]. 
河泰中 .
中国专利 :CN114859650A ,2022-08-05
[7]
EUV光刻用EUV活性膜 [P]. 
罗伯特·克拉克 .
日本专利 :CN118284855A ,2024-07-02
[8]
用于EUV光刻的底层 [P]. 
梁懿宸 ;
A·M·查克 ;
王玉宝 ;
D·J·格雷罗 .
中国专利 :CN114556528A ,2022-05-27
[9]
用于EUV光刻的隔膜 [P]. 
Z·S·豪厄林 ;
M·吉亚西卡比里 ;
A·J·M·吉斯贝斯 ;
L·I·J·C·贝格斯 .
:CN120712518A ,2025-09-26
[10]
用于EUV光刻的超薄超低密度膜 [P]. 
M·D·利马 ;
植田贵洋 .
美国专利 :CN119620531A ,2025-03-14