磁芯光学检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621477623.9

申请日：

2016-12-30

公开(公告)号：

CN206362714U

公开(公告)日：

2017-07-28

发明(设计)人：

张佳平

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区公明街道楼村第一工业区世稳工业区C栋

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

孙营营

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20161230 授权公告日:20170728 终止日期:20201230
2017-07-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种磁芯光学检测设备及检测方法 [P].

南凯亮 .

中国专利 :CN120644396A ,2025-09-16

[2]

光学检测设备 [P].

李建志 .

中国专利 :CN204882389U ,2015-12-16

[3]

光学检测设备 [P].

庄春明 .

中国专利 :CN204086165U ,2015-01-07

[4]

光学检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 ;

高军峰 ;

林至善 .

中国专利 :CN223051153U ,2025-07-01

[5]

光学检测设备 [P].

云奋蛟 ;

张龙 ;

王赢 ;

朱燕明 ;

陈鲁 ;

张嵩 .

中国专利 :CN221260828U ,2024-07-02

[6]

光学检测设备 [P].

许武 ;

王泽军 .

中国专利 :CN216525412U ,2022-05-13

[7]

光学检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 ;

高军峰 ;

林至善 .

中国专利 :CN223051154U ,2025-07-01

[8]

光学检测设备 [P].

张权 ;

吕明高 ;

刘开先 ;

杜国徽 .

中国专利 :CN208303257U ,2019-01-01

[9]

光学检测设备 [P].

计其林 ;

刘文迪 .

中国专利 :CN206470531U ,2017-09-05

[10]

光学检测设备 [P].

粱国春 ;

刘文迪 ;

叶小伟 ;

沈科良 ;

徐微波 .

中国专利 :CN207300548U ,2018-05-01

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