一种波浪纹平面度的光学量测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621039659.9

申请日：

2016-09-05

公开(公告)号：

CN206056537U

公开(公告)日：

2017-03-29

发明(设计)人：

孙鹏杜荣钦尹建刚高云峰

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区深南大道9988号

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360

代理人：

陈琳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种非接触式外壳LOGO平面度光学量测设备 [P].

方晓花 ;

杜荣钦 ;

谢强 ;

邱国良 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206695766U ,2017-12-01

[2]

光学量测装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

罗锐 ;

高云峰 .

中国专利 :CN209433410U ,2019-09-24

[3]

光学量测装置 [P].

方晓花 ;

高泂 ;

谢强 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430753U ,2017-08-22

[4]

缝隙的光学量测装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

罗锐 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430702U ,2017-08-22

[5]

用于检测平面度的量测模组 [P].

吕绍林 .

中国专利 :CN202770415U ,2013-03-06

[6]

一种非接触式单LOGO平面度光学量测设备 [P].

方晓花 ;

许世豪 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

邱国良 ;

罗锐 ;

王康 ;

刘明 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430706U ,2017-08-22

[7]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[8]

光学量测装置 [P].

张巍耀 .

中国专利 :CN109655232A ,2019-04-19

[9]

光学量测装置 [P].

谢锦坤 ;

简俊杰 .

中国专利 :CN106323352A ,2017-01-11

[10]

光学量测装置 [P].

欧聪宪 ;

宋新岳 ;

许时旻 ;

林裕轩 .

中国专利 :CN115406527A ,2022-11-29

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