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一种PHY参数调试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201911307639.3
申请日：
2019-12-18
公开(公告)号：
CN111045970B
公开(公告)日：
2020-04-21
发明(设计)人：
刘海亮
申请人：
申请人地址：
213000 江苏省常州市武进区武进国家高新技术产业开发区新雅路18号528室
IPC主分类号：
G06F1338
IPC分类号：
G06F1342
代理机构：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人：
张欣欣
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-05-15 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 13/38 申请日:20191218
2020-04-21 公开 公开
2021-05-11 授权 授权
共 50 条
[1]
画质参数调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王天乐 ;
蒋楠 .
中国专利 :CN119835518A ,2025-04-15
[2]
设备树参数调试方法和装置、电子设备和存储介质 [P]. 
周为新 .
中国专利 :CN118012514A ,2024-05-10
[3]
设备树参数调试方法和装置、电子设备和存储介质 [P]. 
周为新 .
中国专利 :CN118012513A ,2024-05-10
[4]
一种调试方法、调试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
智扬 ;
张耀文 ;
陈乃军 ;
佴建超 ;
刘艺迪 .
中国专利 :CN118467034A ,2024-08-09
[5]
软件调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
乔崇 .
中国专利 :CN113590470A ,2021-11-02
[6]
软件调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
乔崇 .
中国专利 :CN113590470B ,2024-06-14
[7]
调试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
赵若然 .
中国专利 :CN119596718A ,2025-03-11
[8]
调试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王海波 ;
田宽 .
中国专利 :CN114490345B ,2025-07-08
[9]
调试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王海波 ;
田宽 .
中国专利 :CN114490345A ,2022-05-13
[10]
调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
米庆安 ;
李琳 ;
周冰 ;
李小海 ;
于芹 .
中国专利 :CN111400177A ,2020-07-10
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