用于接触‑光学确定测量物体的几何形状的方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201080062452.2
申请日
2010-11-26
公开(公告)号
CN102822618B
公开(公告)日
2012-12-12
发明(设计)人
R.克里斯托弗 M.安德雷斯 I.施密特 M.赫希勒 B.霍普
申请人
申请人地址
德国吉森
IPC主分类号
G01B1100
IPC分类号
G01B5012
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
梁冰;杨国治
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
借助坐标测量仪测量物体几何形状的方法 [P]. 
R·克里斯托夫 .
中国专利 :CN1466673A ,2004-01-07
[2]
用坐标测量仪测定物体几何形状的方法和装置 [P]. 
R·克里斯托夫 .
中国专利 :CN1174218C ,2001-07-25
[3]
用于物体几何测量的装置和方法 [P]. 
T·梅 ;
C·艾姆韦格 .
中国专利 :CN106461385B ,2017-02-22
[4]
用于物体的几何测量的装置和方法 [P]. 
C·艾姆韦格 ;
T·梅 .
中国专利 :CN112567198A ,2021-03-26
[5]
用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 [P]. 
C·弗兰克 ;
K·T·舒 ;
H·斯考拉 .
德国专利 :CN118936338A ,2024-11-12
[6]
测量物体形状的方法和装置 [P]. 
Q·胡 ;
K·G·哈丁 .
中国专利 :CN1766522A ,2006-05-03
[7]
用于确定物体中的几何特征的方法和系统 [P]. 
B.加内桑 ;
S.杰亚拉曼 ;
A.毛雷尔 .
中国专利 :CN104508476A ,2015-04-08
[8]
以非接触方式确定测量物体的距离和/或位置的装置和方法 [P]. 
R·霍宁克卡 ;
T·舍普夫 ;
J·施蒂斯 .
中国专利 :CN108291820A ,2018-07-17
[9]
用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P]. 
Y·贝拉茨基 ;
Y·海尼克 .
中国专利 :CN115053168A ,2022-09-13
[10]
用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P]. 
Y·贝拉茨基 ;
Y·海尼克 .
:CN115053168B ,2024-09-06