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用于接触‑光学确定测量物体的几何形状的方法和装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201080062452.2
申请日
:
2010-11-26
公开(公告)号
:
CN102822618B
公开(公告)日
:
2012-12-12
发明(设计)人
:
R.克里斯托弗
M.安德雷斯
I.施密特
M.赫希勒
B.霍普
申请人
:
申请人地址
:
德国吉森
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
G01B5012
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
梁冰;杨国治
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-12-12
公开
公开
2013-01-30
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101389918669 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2010800624522 申请日:20101126
2017-02-15
授权
授权
共 50 条
[1]
借助坐标测量仪测量物体几何形状的方法
[P].
R·克里斯托夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
R·克里斯托夫
.
中国专利
:CN1466673A
,2004-01-07
[2]
用坐标测量仪测定物体几何形状的方法和装置
[P].
R·克里斯托夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
R·克里斯托夫
.
中国专利
:CN1174218C
,2001-07-25
[3]
用于物体几何测量的装置和方法
[P].
T·梅
论文数:
0
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0
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0
T·梅
;
C·艾姆韦格
论文数:
0
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0
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0
C·艾姆韦格
.
中国专利
:CN106461385B
,2017-02-22
[4]
用于物体的几何测量的装置和方法
[P].
C·艾姆韦格
论文数:
0
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0
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0
C·艾姆韦格
;
T·梅
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0
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0
T·梅
.
中国专利
:CN112567198A
,2021-03-26
[5]
用于测量物体的几何参数的测量设备和方法
[P].
C·弗兰克
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0
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0
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机构:
斯考拉股份公司
斯考拉股份公司
C·弗兰克
;
K·T·舒
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0
机构:
斯考拉股份公司
斯考拉股份公司
K·T·舒
;
H·斯考拉
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0
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机构:
斯考拉股份公司
斯考拉股份公司
H·斯考拉
.
德国专利
:CN118936338A
,2024-11-12
[6]
测量物体形状的方法和装置
[P].
Q·胡
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0
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0
Q·胡
;
K·G·哈丁
论文数:
0
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0
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0
K·G·哈丁
.
中国专利
:CN1766522A
,2006-05-03
[7]
用于确定物体中的几何特征的方法和系统
[P].
B.加内桑
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0
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0
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B.加内桑
;
S.杰亚拉曼
论文数:
0
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0
S.杰亚拉曼
;
A.毛雷尔
论文数:
0
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0
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0
A.毛雷尔
.
中国专利
:CN104508476A
,2015-04-08
[8]
以非接触方式确定测量物体的距离和/或位置的装置和方法
[P].
R·霍宁克卡
论文数:
0
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R·霍宁克卡
;
T·舍普夫
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0
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0
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T·舍普夫
;
J·施蒂斯
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0
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0
J·施蒂斯
.
中国专利
:CN108291820A
,2018-07-17
[9]
用于物体的光学成像和测量的系统和方法
[P].
Y·贝拉茨基
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0
Y·贝拉茨基
;
Y·海尼克
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Y·海尼克
.
中国专利
:CN115053168A
,2022-09-13
[10]
用于物体的光学成像和测量的系统和方法
[P].
Y·贝拉茨基
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0
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0
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0
机构:
PXE计算成像有限公司
PXE计算成像有限公司
Y·贝拉茨基
;
Y·海尼克
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机构:
PXE计算成像有限公司
PXE计算成像有限公司
Y·海尼克
.
:CN115053168B
,2024-09-06
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