用于物体几何测量的装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580026472.7

申请日：

2015-05-13

公开(公告)号：

CN106461385B

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

T·梅 C·艾姆韦格

申请人：

申请人地址：

英国莱斯特郡

IPC主分类号：

G01B2104

IPC分类号：

G01B2120

代理机构：

北京北翔知识产权代理有限公司 11285

代理人：

郑建晖;钟守期

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-30	授权	授权
2021-04-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/04 申请日:20150513 授权公告日:20190830 终止日期:20200513
2017-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101708699234 IPC(主分类):G01B 21/04 专利申请号:2015800264727 申请日:20150513
2017-02-22	公开	公开

共 50 条

[1]

用于物体的几何测量的装置和方法 [P].

C·艾姆韦格 ;

T·梅 .

中国专利 :CN112567198A ,2021-03-26

[2]

用于物体的几何测量的装置和方法 [P].

T·梅 ;

C·艾姆韦格 ;

G·伯格 ;

R·尼克劳斯 ;

J·皮特 .

中国专利 :CN106461376B ,2017-02-22

[3]

用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 [P].

C·弗兰克 ;

K·T·舒 ;

H·斯考拉 .

德国专利 :CN118936338A ,2024-11-12

[4]

用于流体几何测量的方法和装置 [P].

R.安格鲍尔 ;

J.克利马 .

中国专利 :CN105228796A ,2016-01-06

[5]

用于接触‑光学确定测量物体的几何形状的方法和装置 [P].

R.克里斯托弗 ;

M.安德雷斯 ;

I.施密特 ;

M.赫希勒 ;

B.霍普 .

中国专利 :CN102822618B ,2012-12-12

[6]

用于测量基本上为两维的物体的几何尺寸的装置和方法 [P].

R·克里斯托夫 .

中国专利 :CN1643339A ,2005-07-20

[7]

用于对工件进行几何测量的装置和方法 [P].

伊万·巴沙尔 .

中国专利 :CN101952685B ,2011-01-19

[8]

测量圆形物体的装置和方法 [P].

田小平 ;

田辰尉 ;

位惠丽 ;

林小竹 ;

张宁 ;

张威 .

中国专利 :CN105136091B ,2015-12-09

[9]

用于测量物体厚度的方法和装置 [P].

Y·波利什楚克 ;

R·W·泰特 ;

W·J·小亨德里克斯 ;

M·F·斯特伦 .

中国专利 :CN105783693B ,2016-07-20

[10]

用于测量物体位置的测量装置和方法 [P].

托尔斯敦·贝克尔 ;

约恩·霍耶 .

中国专利 :CN105637319A ,2016-06-01

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