TFT阵列试验方法以及试验装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510093164.4

申请日：

2005-08-19

公开(公告)号：

CN1743858A

公开(公告)日：

2006-03-08

发明(设计)人：

近松圣田岛佳代子

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01M1102 G09F930 G09G330

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

王允方

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-04-23	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2006-03-08	公开	公开

共 50 条

[1]

TFT阵列试验方法以及试验装置 [P].

近松圣 ;

田岛佳代子 .

中国专利 :CN1734273A ,2006-02-15

[2]

TFT阵列及其试验方法、试验装置 [P].

田岛佳代子 .

中国专利 :CN1661378A ,2005-08-31

[3]

TFT阵列试验方法 [P].

田岛佳代子 .

中国专利 :CN1661377A ,2005-08-31

[4]

TFT阵列试验方法 [P].

板垣信孝 .

中国专利 :CN1670535A ,2005-09-21

[5]

试验方法以及试验装置 [P].

石井启之 ;

岩村干生 .

中国专利 :CN102273286A ,2011-12-07

[6]

试验装置以及试验方法 [P].

甲斐辉雅 .

中国专利 :CN105319075A ,2016-02-10

[7]

试验装置以及试验方法 [P].

岩桥洋平 .

中国专利 :CN104950236A ,2015-09-30

[8]

试验装置以及试验方法 [P].

早坂高雅 ;

清水政利 ;

竹内优 ;

吉原诚 .

中国专利 :CN106461455B ,2017-02-22

[9]

试验装置以及试验方法 [P].

肯特·布尔 ;

王峥妍 ;

M·考尔 .

中国专利 :CN108008442A ,2018-05-08

[10]

试验装置以及试验方法 [P].

丸尾友彦 ;

马场宽之 ;

薛雅文 .

中国专利 :CN113300786A ,2021-08-24

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