一种芯片自动测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820766260.3

申请日：

2018-05-22

公开(公告)号：

CN208207148U

公开(公告)日：

2018-12-07

发明(设计)人：

王淑琴

申请人：

申请人地址：

313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R102 G01R104

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

郭晓凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-07	授权	授权
2019-12-24	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20191204 变更事项:专利权人变更前权利人:湖州靖源信息技术有限公司变更后权利人:深圳市硕芯微电子科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室变更后权利人:518000 广东省深圳市光明新区公明街道田寮社区第七工业区汉海达田寮科技园五栋5楼A区

共 50 条

[1]

一种芯片自动测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108362997A ,2018-08-03

[2]

一种机械式芯片自动测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN208188283U ,2018-12-04

[3]

一种机械式芯片自动测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108761308A ,2018-11-06

[4]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN204287254U ,2015-04-22

[5]

一种芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN207964906U ,2018-10-12

[6]

一种芯片自动测试装置 [P].

周鑫淼 ;

高停 ;

李伟东 ;

江建宇 .

中国专利 :CN221303496U ,2024-07-09

[7]

射频芯片自动测试装置 [P].

宋作奇 ;

孙佳林 ;

赫增裕 ;

张永康 ;

段少毅 ;

王宇飞 ;

刘沛 ;

周子棋 ;

牛宏伟 ;

张陈禹 ;

解红艳 ;

刘欢 ;

向兴婧 .

中国专利 :CN218213320U ,2023-01-03

[8]

自动测试装置 [P].

邬洪海 ;

刘穗 ;

汪海涛 ;

张海飞 .

中国专利 :CN208537680U ,2019-02-22

[9]

芯片自动测试装置 [P].

舒慧君 ;

周彦杰 ;

王亦农 .

中国专利 :CN204044314U ,2014-12-24

[10]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN104502641B ,2015-04-08

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