射频芯片自动测试装置

被引：0

申请号：

CN202223220786.7

申请日：

2022-12-02

公开(公告)号：

CN218213320U

公开(公告)日：

2023-01-03

发明(设计)人：

宋作奇孙佳林赫增裕张永康段少毅王宇飞刘沛周子棋牛宏伟张陈禹解红艳刘欢向兴婧

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城东北区35幢

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

石家庄科诚专利事务所(普通合伙) 13113

代理人：

刘丽丽;苏兴娟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-03	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN204287254U ,2015-04-22

[2]

用于芯片测试的自动测试装置 [P].

黄赛 ;

冯程程 ;

张蕴新 .

中国专利 :CN213658809U ,2021-07-09

[3]

一种微波元件自动测试装置 [P].

袁帅 .

中国专利 :CN207780131U ,2018-08-28

[4]

一种用于芯片测试的自动测试装置 [P].

王玉伟 ;

王一凡 ;

何贵银 .

中国专利 :CN217787295U ,2022-11-11

[5]

芯片自动测试装置 [P].

舒慧君 ;

周彦杰 ;

王亦农 .

中国专利 :CN204044314U ,2014-12-24

[6]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN104502641B ,2015-04-08

[7]

芯片自动测试装置及方法 [P].

姜骥 ;

刘翔 ;

黄兢兢 ;

姜利军 .

中国专利 :CN114093793A ,2022-02-25

[8]

射频阻抗测试装置 [P].

谢海成 .

中国专利 :CN206002601U ,2017-03-08

[9]

ABS自动测试装置 [P].

单东升 ;

陈赞 ;

郑飞 ;

杨悦 ;

王思思 .

中国专利 :CN222354309U ,2025-01-14

[10]

自动测试装置 [P].

李文君 .

中国专利 :CN212623716U ,2021-02-26

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