芯片自动测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111562543.9

申请日：

2021-12-20

公开(公告)号：

CN114093793A

公开(公告)日：

2022-02-25

发明(设计)人：

姜骥刘翔黄兢兢姜利军

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨康路639号

IPC主分类号：

H01L2167

IPC分类号：

H01L21677

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

孙佳胤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/67 申请日:20211220
2023-01-10	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):H01L 21/67 申请公布日:20220225
2022-02-25	公开	公开

共 50 条

[1]

射频芯片自动测试装置 [P].

宋作奇 ;

孙佳林 ;

赫增裕 ;

张永康 ;

段少毅 ;

王宇飞 ;

刘沛 ;

周子棋 ;

牛宏伟 ;

张陈禹 ;

解红艳 ;

刘欢 ;

向兴婧 .

中国专利 :CN218213320U ,2023-01-03

[2]

芯片自动测试装置 [P].

舒慧君 ;

周彦杰 ;

王亦农 .

中国专利 :CN204044314U ,2014-12-24

[3]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN204287254U ,2015-04-22

[4]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN104502641B ,2015-04-08

[5]

用于芯片测试的自动测试装置 [P].

黄赛 ;

冯程程 ;

张蕴新 .

中国专利 :CN213658809U ,2021-07-09

[6]

一种芯片自动测试装置 [P].

金燕 ;

王黎明 ;

钱月娟 ;

周杨 ;

朱彩凤 ;

童海燕 ;

钱敏 .

中国专利 :CN117706320A ,2024-03-15

[7]

自动测试装置及方法 [P].

李刚 .

中国专利 :CN1746694A ,2006-03-15

[8]

自动测试装置及方法 [P].

吴成超 ;

段宁 .

中国专利 :CN107024627A ,2017-08-08

[9]

自动测试装置及其自动测试方法 [P].

郑吉宏 .

中国专利 :CN104166084A ,2014-11-26

[10]

自动测试方法及其自动测试装置 [P].

廖彦维 .

中国专利 :CN101413980B ,2009-04-22

← 1 2 3 4 5 →