自动测试装置及方法

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专利类型
发明
申请号
CN200410074594.7
申请日
2004-09-07
公开(公告)号
CN1746694A
公开(公告)日
2006-03-15
发明(设计)人
李刚
申请人
申请人地址
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
G01R313193
IPC分类号
G01R3128 G06F11277
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人
王学强
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
自动测试装置及其自动测试方法 [P]. 
郑吉宏 .
中国专利 :CN104166084A ,2014-11-26
[2]
自动测试方法及其自动测试装置 [P]. 
廖彦维 .
中国专利 :CN101413980B ,2009-04-22
[3]
自动测试装置及方法 [P]. 
吴成超 ;
段宁 .
中国专利 :CN107024627A ,2017-08-08
[4]
自动测试装置和方法 [P]. 
刘清华 .
中国专利 :CN104237660A ,2014-12-24
[5]
自动测试方法、自动测试系统及辅助测试装置 [P]. 
黄潮生 ;
何海雁 ;
游建军 ;
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[6]
压力自动测试装置及测试方法 [P]. 
阮官方 .
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[7]
电路板自动测试装置及电路板自动测试方法 [P]. 
王震 ;
刘健 ;
翟慧慧 ;
张永全 ;
廖兵 ;
王彬 .
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[8]
产品自动测试装置及方法 [P]. 
张玉亮 .
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[9]
芯片自动测试装置及方法 [P]. 
姜骥 ;
刘翔 ;
黄兢兢 ;
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[10]
按键自动测试装置及方法 [P]. 
吴维萍 ;
魏兆鸿 ;
魏仁忠 ;
刘伟 ;
李高雄 .
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