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像素值校正方法以及像素值校正装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010075937.0
申请日
:
2020-01-22
公开(公告)号
:
CN113163179A
公开(公告)日
:
2021-07-23
发明(设计)人
:
唐婉儒
李宗轩
陈世泽
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹
IPC主分类号
:
H04N904
IPC分类号
:
H04N5217
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
王红艳
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-23
公开
公开
2021-08-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 9/04 申请日:20200122
共 50 条
[1]
像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法
[P].
米田丰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
米田丰
;
小矶学
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小矶学
.
中国专利
:CN1732693A
,2006-02-08
[2]
用于像素色彩校正的方法以及像素色彩校正装置
[P].
史妙红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
史妙红
;
米塔艾民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
米塔艾民
.
中国专利
:CN102045575A
,2011-05-04
[3]
发送器电路、补偿值校正装置与补偿值校正方法
[P].
张元硕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞昱半导体股份有限公司
瑞昱半导体股份有限公司
张元硕
;
高子铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞昱半导体股份有限公司
瑞昱半导体股份有限公司
高子铭
.
中国专利
:CN117526976A
,2024-02-06
[4]
发送器电路、补偿值校正装置与补偿值校正方法
[P].
高子铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞昱半导体股份有限公司
瑞昱半导体股份有限公司
高子铭
.
中国专利
:CN116647241B
,2025-07-29
[5]
像素缺陷校正装置
[P].
角谷彰规
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
角谷彰规
.
中国专利
:CN101860666A
,2010-10-13
[6]
校正方法以及校正装置
[P].
山崎智章
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山崎智章
;
酒井计
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
酒井计
.
日本专利
:CN118235235A
,2024-06-21
[7]
校正装置以及校正方法
[P].
堀边隆介
论文数:
0
引用数:
0
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0
堀边隆介
;
木村优斗
论文数:
0
引用数:
0
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0
木村优斗
.
中国专利
:CN112106131A
,2020-12-18
[8]
校正装置以及校正方法
[P].
高桥梓帆美
论文数:
0
引用数:
0
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0
高桥梓帆美
;
井本和范
论文数:
0
引用数:
0
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0
井本和范
;
三原功雄
论文数:
0
引用数:
0
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0
三原功雄
.
中国专利
:CN104932812A
,2015-09-23
[9]
校正方法以及校正装置
[P].
大原直人
论文数:
0
引用数:
0
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0
大原直人
.
中国专利
:CN109803137A
,2019-05-24
[10]
校正装置以及校正方法
[P].
今川太郎
论文数:
0
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0
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0
今川太郎
;
野田晃浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
野田晃浩
;
日下博也
论文数:
0
引用数:
0
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0
日下博也
.
中国专利
:CN108811511A
,2018-11-13
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