像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200380107363.5

申请日：

2003-12-11

公开(公告)号：

CN1732693A

公开(公告)日：

2006-02-08

发明(设计)人：

米田丰小矶学

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

H04N907

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

邸万奎;黄小临

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-04-01	授权	授权
2006-02-08	公开	公开
2014-02-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101567528406 IPC(主分类):H04N 9/07 专利号:ZL2003801073635 申请日:20031211 授权公告日:20090401 终止日期:20121211
2006-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

缺陷校正设备和缺陷校正方法 [P].

大庭博明 .

中国专利 :CN103959108A ,2014-07-30

[2]

像素缺陷检测和校正设备和方法、成像装置、和程序 [P].

桥爪淳 .

中国专利 :CN102055918A ,2011-05-11

[3]

像素缺陷检测方法和装置 [P].

刘将 ;

魏朝刚 .

中国专利 :CN104732900A ,2015-06-24

[4]

缺陷像素数据校正设备和方法以及摄像设备 [P].

山口利朗 .

中国专利 :CN101998068A ,2011-03-30

[5]

像素值校正方法以及像素值校正装置 [P].

唐婉儒 ;

李宗轩 ;

陈世泽 .

中国专利 :CN113163179A ,2021-07-23

[6]

缺陷像素地址检测方法以及检测装置 [P].

安藤秀宪 ;

井元慎一郎 ;

东保宏宣 .

中国专利 :CN101996543A ,2011-03-30

[7]

缺陷检测设备和缺陷检测方法 [P].

甘迎金 ;

李朝垒 ;

蒋耀华 ;

李凯强 ;

简活滕 ;

杨磊 ;

宗岩 ;

丁勇 ;

刘康 ;

任晓东 ;

贺宝禄 ;

刘百 ;

杨双双 ;

吴锦合 ;

张丹 .

中国专利 :CN118243697A ,2024-06-25

[8]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[9]

缺陷检测方法和设备 [P].

樋田祐辅 .

中国专利 :CN114092386A ,2022-02-25

[10]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

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