像素缺陷检测方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310713365.4

申请日：

2013-12-20

公开(公告)号：

CN104732900A

公开(公告)日：

2015-06-24

发明(设计)人：

刘将魏朝刚

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢

IPC主分类号：

G09G300

IPC分类号：

G01N2189

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

唐清凯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-16	授权	授权
2015-07-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101617857296 IPC(主分类):G09G 3/00 专利申请号:2013107133654 申请日:20131220
2015-06-24	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[2]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[3]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[4]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[5]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

[7]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

远藤一正 ;

持田大作 ;

吉川透 ;

柴田浩匡 ;

河井章利 .

中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22

[8]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

张聪 ;

陆佳磊 ;

王凯 .

中国专利 :CN120088225A ,2025-06-03

[9]

缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114972173B ,2025-06-03

[10]

缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统 [P].

陈鲁 ;

吕肃 ;

刘欢敏 ;

张嵩 .

中国专利 :CN115222699B ,2025-10-31

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