缺陷检测装置和缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN03801230.8

申请日：

2003-08-06

公开(公告)号：

CN1565033A

公开(公告)日：

2005-01-12

发明(设计)人：

本田喜久

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G11B2018

IPC分类号：

G11B2010 G11B7005

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

刘宗杰;叶恺东

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-01-12	公开	公开
2005-03-09	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-07-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[2]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[3]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[4]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[5]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

远藤一正 ;

持田大作 ;

吉川透 ;

柴田浩匡 ;

河井章利 .

中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22

[7]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

张聪 ;

陆佳磊 ;

王凯 .

中国专利 :CN120088225A ,2025-06-03

[8]

缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P].

永田泰昭 ;

佐藤雄伍 .

中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11

[9]

缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P].

山本修平 ;

中西秀信 ;

植木章太 .

中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14

[10]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

← 1 2 3 4 5 →