缺陷检测装置、缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201380029536.X
申请日
2013-06-06
公开(公告)号
CN104350381B
公开(公告)日
2015-02-11
发明(设计)人
永田泰昭 佐藤雄伍
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01N2904
IPC分类号
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;张会华
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P]. 
上田佳央 ;
冈本康平 ;
山野正树 ;
长谷川昇 ;
青木宏道 .
中国专利 :CN110268259A ,2019-09-20
[2]
缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P]. 
上田佳央 ;
冈本康平 .
中国专利 :CN111373254A ,2020-07-03
[3]
缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P]. 
山本修平 ;
中西秀信 ;
植木章太 .
中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14
[4]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
梅红伟 ;
涂彦昕 ;
胡伟 ;
刘健犇 ;
刘立帅 ;
王黎明 .
中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19
[5]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
张勤 ;
付翔宇 ;
李国军 .
中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30
[6]
缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
杨航 .
中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02
[7]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
畠堀贵秀 ;
田窪健二 .
中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12
[8]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
太田佳成 .
中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27
[9]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
中田武男 ;
太田祥之 ;
中野竜辅 .
日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16
[10]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
冈山敏之 .
中国专利 :CN101464418A ,2009-06-24