缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880011102.X

申请日：

2018-03-19

公开(公告)号：

CN110268259A

公开(公告)日：

2019-09-20

发明(设计)人：

上田佳央冈本康平山野正树长谷川昇青木宏道

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2926

IPC分类号：

G01N2904 G01N2928 G01N2930

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

夏斌

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 29/26 申请公布日:20190920
2019-09-20	公开	公开
2019-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/26 申请日:20180319

共 50 条

[1]

缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P].

上田佳央 ;

冈本康平 .

中国专利 :CN111373254A ,2020-07-03

[2]

缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P].

永田泰昭 ;

佐藤雄伍 .

中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11

[3]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12

[4]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

冈山敏之 .

中国专利 :CN101464418A ,2009-06-24

[5]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

中岛隆宏 .

中国专利 :CN103988070B ,2014-08-13

[6]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

长田侑也 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN109030624B ,2018-12-18

[7]

缺陷检测装置以及缺陷检测方法 [P].

海老田孝夫 ;

新家英正 .

中国专利 :CN106461567B ,2017-02-22

[8]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

史胡祎 .

中国专利 :CN119887716A ,2025-04-25

[9]

缺陷检测装置、缺陷检测方法及程序 [P].

长田达弥 ;

大久保知洋 ;

醍醐重 .

日本专利 :CN121057936A ,2025-12-02

[10]

缺陷检测方法以及装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN112154320A ,2020-12-29

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