缺陷检测装置以及缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201580017050.3
申请日
2015-03-17
公开(公告)号
CN106461567B
公开(公告)日
2017-02-22
发明(设计)人
海老田孝夫 新家英正
申请人
申请人地址
日本福井县
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
D05B5100 G01N2184
代理机构
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
徐冰冰;黄剑锋
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
畠堀贵秀 ;
田窪健二 .
中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12
[2]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
冈山敏之 .
中国专利 :CN101464418A ,2009-06-24
[3]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
中岛隆宏 .
中国专利 :CN103988070B ,2014-08-13
[4]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
畠堀贵秀 ;
长田侑也 ;
田窪健二 .
中国专利 :CN109030624B ,2018-12-18
[5]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P]. 
史胡祎 .
中国专利 :CN119887716A ,2025-04-25
[6]
缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P]. 
上田佳央 ;
冈本康平 .
中国专利 :CN111373254A ,2020-07-03
[7]
缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P]. 
上田佳央 ;
冈本康平 ;
山野正树 ;
长谷川昇 ;
青木宏道 .
中国专利 :CN110268259A ,2019-09-20
[8]
缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P]. 
永田泰昭 ;
佐藤雄伍 .
中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11
[9]
缺陷检测方法以及装置 [P]. 
畠堀贵秀 ;
田窪健二 .
中国专利 :CN112154320A ,2020-12-29
[10]
缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P]. 
山本修平 ;
中西秀信 ;
植木章太 .
中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14