缺陷检测方法以及缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810601368.1

申请日：

2018-06-12

公开(公告)号：

CN109030624B

公开(公告)日：

2018-12-18

发明(设计)人：

畠堀贵秀长田侑也田窪健二

申请人：

申请人地址：

日本国京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

IPC主分类号：

G01N2904

IPC分类号：

G01N2948 G01N2944

代理机构：

上海华诚知识产权代理有限公司 31300

代理人：

肖华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-18	公开	公开
2021-02-26	授权	授权
2019-01-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/04 申请日:20180612

共 50 条

[1]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12

[2]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

冈山敏之 .

中国专利 :CN101464418A ,2009-06-24

[3]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

中岛隆宏 .

中国专利 :CN103988070B ,2014-08-13

[4]

缺陷检测装置以及缺陷检测方法 [P].

海老田孝夫 ;

新家英正 .

中国专利 :CN106461567B ,2017-02-22

[5]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

史胡祎 .

中国专利 :CN119887716A ,2025-04-25

[6]

缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P].

上田佳央 ;

冈本康平 .

中国专利 :CN111373254A ,2020-07-03

[7]

缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P].

上田佳央 ;

冈本康平 ;

山野正树 ;

长谷川昇 ;

青木宏道 .

中国专利 :CN110268259A ,2019-09-20

[8]

缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P].

永田泰昭 ;

佐藤雄伍 .

中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11

[9]

缺陷检测方法以及装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN112154320A ,2020-12-29

[10]

缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P].

山本修平 ;

中西秀信 ;

植木章太 .

中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14

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