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缺陷检测装置和缺陷检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202280087903.0
申请日：
2022-05-26
公开(公告)号：
CN118511070A
公开(公告)日：
2024-08-16
发明(设计)人：
中田武男 太田祥之 中野竜辅
申请人：
日本制铁株式会社
申请人地址：
日本
IPC主分类号：
G01N21/91
IPC分类号：
G01N21/892
代理机构：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：
刘新宇;李靖
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-08-16 公开 公开
2024-09-03 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/91申请日:20220526
共 50 条
[1]
缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
杨航 .
中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02
[2]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
太田佳成 .
中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27
[3]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
本田喜久 .
中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12
[4]
缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
李旭为 ;
李宝同 ;
李小龙 ;
王凯 ;
陆佳磊 ;
张聪 .
中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04
[5]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
濑户基司 ;
村上浩明 .
中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18
[6]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
远藤一正 ;
持田大作 ;
吉川透 ;
柴田浩匡 ;
河井章利 .
中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22
[7]
缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P]. 
李旭为 ;
李宝同 ;
李小龙 ;
张聪 ;
陆佳磊 ;
王凯 .
中国专利 :CN120088225A ,2025-06-03
[8]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN109856877A ,2019-06-07
[9]
缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P]. 
永田泰昭 ;
佐藤雄伍 .
中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11
[10]
缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P]. 
山本修平 ;
中西秀信 ;
植木章太 .
中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14
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