缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210853605.X

申请日：

2022-07-11

公开(公告)号：

CN115222699B

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

陈鲁吕肃刘欢敏张嵩

申请人：

深圳中科飞测科技股份有限公司

申请人地址：

518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G01N21/88

代理机构：

深圳精智联合知识产权代理有限公司 44393

代理人：

夏声平

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测方法和缺陷检测装置及系统 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114972173B ,2025-06-03

[2]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[3]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

[4]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[5]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[7]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[8]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[9]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

[10]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

远藤一正 ;

持田大作 ;

吉川透 ;

柴田浩匡 ;

河井章利 .

中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22

← 1 2 3 4 5 →