缺陷像素数据校正设备和方法以及摄像设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010251940.X
申请日
2010-08-09
公开(公告)号
CN101998068A
公开(公告)日
2011-03-30
发明(设计)人
山口利朗
申请人
申请人地址
日本东京都大田区下丸子3丁目30番2号
IPC主分类号
H04N5357
IPC分类号
H04N5225
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法 [P]. 
米田丰 ;
小矶学 .
中国专利 :CN1732693A ,2006-02-08
[2]
用于处理像素数据的方法、相应的装置和程序 [P]. 
多米尼克·金哈克 ;
巴泰勒米·海尔曼 ;
史蒂文·特勒 .
法国专利 :CN117795970A ,2024-03-29
[3]
像素数据处理方法及图像传感器 [P]. 
周毅春 ;
杨哲宇 .
中国专利 :CN115665569A ,2023-01-31
[4]
像素数据处理方法及图像传感器 [P]. 
周毅春 ;
杨哲宇 .
中国专利 :CN115665569B ,2025-01-07
[5]
摄像设备和校正方法 [P]. 
永田桂次 .
中国专利 :CN100546343C ,2008-04-30
[6]
用于输出具有附加数据的像素数据的方法和装置 [P]. 
李廷银 .
中国专利 :CN101322395A ,2008-12-10
[7]
可平均像素数据的图像传感器 [P]. 
郭家祺 ;
邱瑞德 ;
刘汉麒 ;
陈鹏升 ;
邱奕诚 .
中国专利 :CN109873963B ,2019-06-11
[8]
一种像素数据处理方法、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
罗来富 ;
殷亚祥 ;
郭自强 ;
杨晨飞 ;
曹桂平 ;
董宁 .
中国专利 :CN119540029B ,2025-04-22
[9]
一种像素数据处理方法、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
罗来富 ;
殷亚祥 ;
郭自强 ;
杨晨飞 ;
曹桂平 ;
董宁 .
中国专利 :CN119540029A ,2025-02-28
[10]
缺陷校正设备和缺陷校正方法 [P]. 
大庭博明 .
中国专利 :CN103959108A ,2014-07-30