缺陷像素地址检测方法以及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010268187.5

申请日：

2010-08-25

公开(公告)号：

CN101996543A

公开(公告)日：

2011-03-30

发明(设计)人：

安藤秀宪井元慎一郎东保宏宣

申请人：

申请人地址：

日本国东京都武藏野市吉祥寺本町2丁目6番8号

IPC主分类号：

G09G300

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

徐申民

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-30	公开	公开
2011-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101071489987 IPC(主分类):G09G 3/00 专利申请号:2010102681875 申请日:20100825
2013-06-19	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12

[2]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

冈山敏之 .

中国专利 :CN101464418A ,2009-06-24

[3]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

中岛隆宏 .

中国专利 :CN103988070B ,2014-08-13

[4]

缺陷检测装置以及缺陷检测方法 [P].

海老田孝夫 ;

新家英正 .

中国专利 :CN106461567B ,2017-02-22

[5]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

长田侑也 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN109030624B ,2018-12-18

[6]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

史胡祎 .

中国专利 :CN119887716A ,2025-04-25

[7]

像素缺陷检测方法和装置 [P].

刘将 ;

魏朝刚 .

中国专利 :CN104732900A ,2015-06-24

[8]

缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P].

上田佳央 ;

冈本康平 .

中国专利 :CN111373254A ,2020-07-03

[9]

缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序 [P].

上田佳央 ;

冈本康平 ;

山野正树 ;

长谷川昇 ;

青木宏道 .

中国专利 :CN110268259A ,2019-09-20

[10]

缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P].

山本修平 ;

中西秀信 ;

植木章太 .

中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14

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