硅光电检测器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200720124644.7

申请日：

2007-07-03

公开(公告)号：

CN201078806Y

公开(公告)日：

2008-06-25

发明(设计)人：

潘银松孔谋夫林聚承张仁富

申请人：

申请人地址：

400030重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号

IPC主分类号：

H01L31105

IPC分类号：

H01L310248 H01L310352

代理机构：

重庆志合专利事务所

代理人：

胡荣珲

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-09-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101103917122 IPC(主分类):H01L 31/105 专利号:ZL2007201246447 申请日:20070703 授权公告日:20080625 终止日期:20100703
2008-06-25	授权	授权

共 50 条

[1]

光电检测器 [P].

石圳 ;

秦旭东 .

中国专利 :CN210346730U ,2020-04-17

[2]

光电检测器 [P].

张超 ;

涂佳丽 ;

李然 ;

鲍明泽 ;

王云光 ;

王文霞 .

中国专利 :CN201749109U ,2011-02-16

[3]

光电检测器 [P].

向可为 ;

孔超 .

中国专利 :CN201034933Y ,2008-03-12

[4]

光电检测器 [P].

李士瑛 .

中国专利 :CN2137781Y ,1993-07-07

[5]

光电检测器 [P].

姚永年 ;

陈隆凡 ;

张庆 .

中国专利 :CN201803940U ,2011-04-20

[6]

光电检测器 [P].

高志贤 ;

李华军 ;

王红勇 ;

房彦军 ;

周焕英 .

中国专利 :CN2641644Y ,2004-09-15

[7]

光电检测器 [P].

安德鲁·哈里斯 ;

安德鲁·凯尔特 .

中国专利 :CN113424321A ,2021-09-21

[8]

光电检测器和光电检测器的制造方法 [P].

幸山裕亮 ;

山元纯平 ;

江田健太郎 ;

莲见良治 ;

山下浩史 .

日本专利 :CN118613918A ,2024-09-06

[9]

纱线光电检测器 [P].

高山 ;

高峰 ;

黄培征 .

中国专利 :CN207418946U ,2018-05-29

[10]

PIN光电检测器 [P].

柯呈佶 ;

巴里·莱维尼 .

中国专利 :CN100499173C ,2006-10-25

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