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PIN光电检测器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200480015226.3
申请日
:
2004-04-30
公开(公告)号
:
CN100499173C
公开(公告)日
:
2006-10-25
发明(设计)人
:
柯呈佶
巴里·莱维尼
申请人
:
申请人地址
:
美国密执安
IPC主分类号
:
H01L3100
IPC分类号
:
H01L2714
H01L3300
H01L31062
H01L31113
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
:
杜日新
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2006-10-25
公开
公开
2006-12-20
实质审查的生效
实质审查的生效
共 50 条
[1]
光电检测器
[P].
安德鲁·哈里斯
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0
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安德鲁·哈里斯
;
安德鲁·凯尔特
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安德鲁·凯尔特
.
中国专利
:CN113424321A
,2021-09-21
[2]
光电检测器和光电检测器的制造方法
[P].
幸山裕亮
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
幸山裕亮
;
山元纯平
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
山元纯平
;
江田健太郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
江田健太郎
;
莲见良治
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
莲见良治
;
山下浩史
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
山下浩史
.
日本专利
:CN118613918A
,2024-09-06
[3]
硅光电检测器
[P].
潘银松
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潘银松
;
孔谋夫
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孔谋夫
;
林聚承
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林聚承
;
张仁富
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张仁富
.
中国专利
:CN201078806Y
,2008-06-25
[4]
侧壁光电检测器
[P].
M·T·莫斯
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M·T·莫斯
;
M·J·帕尼恰
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M·J·帕尼恰
;
O·I·多森穆
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O·I·多森穆
.
中国专利
:CN101937938A
,2011-01-05
[5]
侧壁光电检测器
[P].
M·T·莫尔斯
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M·T·莫尔斯
;
M·J·帕尼西亚
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M·J·帕尼西亚
;
O·多森姆
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O·多森姆
.
中国专利
:CN102460735A
,2012-05-16
[6]
光电检测器
[P].
安德里亚·卡洛·费雷里
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安德里亚·卡洛·费雷里
;
路易吉·奥奇平蒂
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路易吉·奥奇平蒂
;
阿方索·鲁科
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阿方索·鲁科
.
中国专利
:CN113039645A
,2021-06-25
[7]
光电检测器
[P].
竹内幸一
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
竹内幸一
;
平田瑛子
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
平田瑛子
;
纳土晋一郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
纳土晋一郎
;
水口彻也
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
水口彻也
;
松谷弘康
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
松谷弘康
;
小岛尚
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
小岛尚
;
小林勇气
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
小林勇气
;
横地界斗
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
横地界斗
;
川岛聪
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
川岛聪
;
齐藤广志
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
齐藤广志
;
长谷川贤太
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
长谷川贤太
.
日本专利
:CN120642599A
,2025-09-12
[8]
光电检测器
[P].
石圳
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石圳
;
秦旭东
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秦旭东
.
中国专利
:CN210346730U
,2020-04-17
[9]
光电检测器
[P].
张超
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张超
;
涂佳丽
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涂佳丽
;
李然
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李然
;
鲍明泽
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鲍明泽
;
王云光
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王云光
;
王文霞
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王文霞
.
中国专利
:CN201749109U
,2011-02-16
[10]
光电检测器
[P].
向可为
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向可为
;
孔超
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孔超
.
中国专利
:CN201034933Y
,2008-03-12
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