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芯片功耗的测试电路及方法、芯片
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010501200.0
申请日
:
2020-06-04
公开(公告)号
:
CN111638441A
公开(公告)日
:
2020-09-08
发明(设计)人
:
李旭东
岳士丰
肖勇
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市高新区竹园路209号4号楼1801
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
周春枚
法律状态
:
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-22
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20200908
2020-09-08
公开
公开
2020-10-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200604
共 50 条
[1]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统
[P].
历广绪
论文数:
0
引用数:
0
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0
历广绪
;
张俊
论文数:
0
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0
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0
张俊
.
中国专利
:CN115078968A
,2022-09-20
[2]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统
[P].
历广绪
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海类比半导体技术有限公司
上海类比半导体技术有限公司
历广绪
;
张俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海类比半导体技术有限公司
上海类比半导体技术有限公司
张俊
.
中国专利
:CN115078968B
,2024-06-25
[3]
芯片动态功耗测试系统及方法
[P].
王栋
论文数:
0
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0
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0
王栋
;
窦志军
论文数:
0
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0
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0
窦志军
;
王赟
论文数:
0
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0
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0
王赟
;
王于波
论文数:
0
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0
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王于波
;
胡晓波
论文数:
0
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0
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胡晓波
;
魏斌
论文数:
0
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0
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0
魏斌
;
成嵩
论文数:
0
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0
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0
成嵩
.
中国专利
:CN115113019A
,2022-09-27
[4]
芯片测试电路及芯片
[P].
冯超超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
飞腾信息技术有限公司
飞腾信息技术有限公司
冯超超
.
中国专利
:CN117347839B
,2024-03-12
[5]
芯片测试电路及芯片
[P].
冯超超
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
飞腾信息技术有限公司
飞腾信息技术有限公司
冯超超
.
中国专利
:CN117347839A
,2024-01-05
[6]
芯片的测试电路
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
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机构:
上海壁仞科技股份有限公司
上海壁仞科技股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
上海壁仞科技股份有限公司
上海壁仞科技股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
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机构:
上海壁仞科技股份有限公司
上海壁仞科技股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
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机构:
上海壁仞科技股份有限公司
上海壁仞科技股份有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118033370A
,2024-05-14
[7]
芯片测试电路、芯片及测试设备
[P].
严波
论文数:
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0
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机构:
普源精电科技股份有限公司
普源精电科技股份有限公司
严波
;
罗浚洲
论文数:
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0
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0
机构:
普源精电科技股份有限公司
普源精电科技股份有限公司
罗浚洲
;
论文数:
引用数:
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机构:
王悦
.
中国专利
:CN115267498B
,2025-07-01
[8]
功耗管理电路及芯片
[P].
姜文奇
论文数:
0
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姜文奇
;
刘苏
论文数:
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0
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刘苏
;
苏孟豪
论文数:
0
引用数:
0
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0
苏孟豪
.
中国专利
:CN113495611A
,2021-10-12
[9]
芯片测试电路及电路测试方法
[P].
黄宇
论文数:
0
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黄宇
;
崔昌明
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崔昌明
;
黄俊林
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黄俊林
;
付海涛
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0
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0
付海涛
.
中国专利
:CN115443415A
,2022-12-06
[10]
芯片测试电路及电路测试方法
[P].
崔昌明
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0
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
崔昌明
;
黄俊林
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
黄俊林
;
黄宇
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
黄宇
;
付海涛
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0
机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
付海涛
.
中国专利
:CN115443413B
,2025-05-23
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