芯片功耗的测试电路及方法、芯片

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010501200.0
申请日
2020-06-04
公开(公告)号
CN111638441A
公开(公告)日
2020-09-08
发明(设计)人
李旭东 岳士丰 肖勇
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市高新区竹园路209号4号楼1801
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
周春枚
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20
[2]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25
[3]
芯片动态功耗测试系统及方法 [P]. 
王栋 ;
窦志军 ;
王赟 ;
王于波 ;
胡晓波 ;
魏斌 ;
成嵩 .
中国专利 :CN115113019A ,2022-09-27
[4]
芯片测试电路及芯片 [P]. 
冯超超 .
中国专利 :CN117347839B ,2024-03-12
[5]
芯片测试电路及芯片 [P]. 
冯超超 .
中国专利 :CN117347839A ,2024-01-05
[6]
芯片的测试电路 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118033370A ,2024-05-14
[7]
芯片测试电路、芯片及测试设备 [P]. 
严波 ;
罗浚洲 ;
王悦 .
中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01
[8]
功耗管理电路及芯片 [P]. 
姜文奇 ;
刘苏 ;
苏孟豪 .
中国专利 :CN113495611A ,2021-10-12
[9]
芯片测试电路及电路测试方法 [P]. 
黄宇 ;
崔昌明 ;
黄俊林 ;
付海涛 .
中国专利 :CN115443415A ,2022-12-06
[10]
芯片测试电路及电路测试方法 [P]. 
崔昌明 ;
黄俊林 ;
黄宇 ;
付海涛 .
中国专利 :CN115443413B ,2025-05-23