芯片动态功耗测试系统及方法

被引：0

申请号：

CN202210553120.9

申请日：

2022-05-20

公开(公告)号：

CN115113019A

公开(公告)日：

2022-09-27

发明(设计)人：

王栋窦志军王赟王于波胡晓波魏斌成嵩

申请人：

申请人地址：

102200 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R1302 G01R1900

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

陈潇潇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-27	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片功耗的测试电路及方法、芯片 [P].

李旭东 ;

岳士丰 ;

肖勇 .

中国专利 :CN111638441A ,2020-09-08

[2]

雷管延期芯片动态功耗测试装置 [P].

孙翼 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN220399533U ,2024-01-26

[3]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张衍 .

中国专利 :CN118655444A ,2024-09-17

[4]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

周祥 ;

唐绪伟 ;

钟峰 ;

袁俊 ;

张亦锋 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

袁刚 ;

张会战 ;

辜诗涛 ;

魏强 ;

容承昌 ;

卢旭坤 .

中国专利 :CN111346845B ,2020-06-30

[5]

网卡芯片测试方法及系统 [P].

官治超 ;

李华 .

中国专利 :CN103955418A ,2014-07-30

[6]

处理器芯片功耗测试方法和测试系统 [P].

方家恩 ;

张子重 ;

叶永生 ;

董永俊 .

中国专利 :CN120370134B ,2025-10-24

[7]

处理器芯片功耗测试方法和测试系统 [P].

方家恩 ;

张子重 ;

叶永生 ;

董永俊 .

中国专利 :CN120370134A ,2025-07-25

[8]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[9]

功耗测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

游传远 ;

孙艳芳 ;

蒋小林 ;

王冬华 .

中国专利 :CN112345823A ,2021-02-09

[10]

功耗测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

游传远 ;

孙艳芳 ;

蒋小林 ;

王冬华 .

中国专利 :CN112345823B ,2024-06-18

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