一种面结构光三维测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610835233.2

申请日：

2016-09-20

公开(公告)号：

CN106197322A

公开(公告)日：

2016-12-07

发明(设计)人：

岳慧敏李绒潘志鹏陈红丽刘永

申请人：

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230

代理人：

李春芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101695164840 IPC(主分类):G01B 11/25 专利申请号:2016108352332 申请日:20160920
2016-12-07	公开	公开
2019-04-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种面结构光三维测量系统 [P].

钟凯 ;

李中伟 ;

李家乐 ;

黄锦涛 ;

田鸿业 ;

张攀 .

中国专利 :CN222460616U ,2025-02-11

[2]

面结构光三维测量系统及方法 [P].

何文韬 ;

王辰 ;

王晓南 ;

孙繁 .

中国专利 :CN117824532A ,2024-04-05

[3]

结构光三维测量系统 [P].

杨泓宇 ;

鲜宗均 ;

胡兴成 ;

彭子赞 ;

袁寒 .

中国专利 :CN220794168U ,2024-04-16

[4]

面结构光三维测量系统的标定方法 [P].

张晓元 ;

杨艺 .

中国专利 :CN111028297A ,2020-04-17

[5]

一种光栅平动结构光三维测量系统及三维测量方法 [P].

吕坤 ;

郭燕琼 ;

张娜 ;

朱江平 ;

游迪 ;

蒋西 ;

程鹏 ;

杜鹏宇 .

中国专利 :CN113251952A ,2021-08-13

[6]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN212058670U ,2020-12-01

[7]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN111307068B ,2025-02-25

[8]

一种结构光投影的高速三维测量系统 [P].

吴志龙 .

中国专利 :CN205246014U ,2016-05-18

[9]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN111307068A ,2020-06-19

[10]

一种结构光投影的高速三维测量系统 [P].

吴庆阳 ;

惠彬 ;

李景镇 .

中国专利 :CN101957183A ,2011-01-26

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