基于特征频度统计的软件质量分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010385321.3
申请日
2020-05-09
公开(公告)号
CN111290969B
公开(公告)日
2020-06-16
发明(设计)人
熊阳
申请人
申请人地址
610094 四川省成都市成都高新区吉泰三路8号1栋1单元26楼1-8号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
成都智言知识产权代理有限公司 51282
代理人
濮云杉
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
影山辽 ;
内田刚史 ;
西口克 ;
下村学 .
日本专利 :CN113412532B ,2024-08-23
[2]
质量分析装置及质量分析方法 [P]. 
桥本雄一郎 .
中国专利 :CN112514028A ,2021-03-16
[3]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
田川雄介 ;
石川勇树 .
日本专利 :CN113711025B ,2024-05-24
[4]
质量分析装置及质量分析方法 [P]. 
田川雄介 ;
石川勇树 .
中国专利 :CN113711332A ,2021-11-26
[5]
质量分析方法以及质量分析装置 [P]. 
杉山益之 ;
桥本雄一郎 ;
长谷川英树 ;
桥场周平 ;
熊野峻 .
中国专利 :CN102655074A ,2012-09-05
[6]
质量分析装置及质量分析方法 [P]. 
安田博幸 ;
吉冈信二 .
中国专利 :CN103222031A ,2013-07-24
[7]
质量分析方法及质量分析装置 [P]. 
高桥和也 .
日本专利 :CN118043937A ,2024-05-14
[8]
质量分析方法以及质量分析系统 [P]. 
马场纪子 ;
吉冈信二 ;
安田博幸 .
中国专利 :CN104508474A ,2015-04-08
[9]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
西元琢真 ;
王子豪 ;
古矢勇夫 ;
任田浩 ;
桥本雄一郎 ;
杉山益之 .
日本专利 :CN115023787B ,2025-03-28
[10]
质量分析方法及质量分析装置 [P]. 
高桥秀典 ;
浅川大树 .
日本专利 :CN119072628A ,2024-12-03