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基于特征频度统计的软件质量分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010385321.3
申请日
:
2020-05-09
公开(公告)号
:
CN111290969B
公开(公告)日
:
2020-06-16
发明(设计)人
:
熊阳
申请人
:
申请人地址
:
610094 四川省成都市成都高新区吉泰三路8号1栋1单元26楼1-8号
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
代理机构
:
成都智言知识产权代理有限公司 51282
代理人
:
濮云杉
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-22
授权
授权
2020-07-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200509
2020-06-16
公开
公开
共 50 条
[1]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
影山辽
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
影山辽
;
内田刚史
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
内田刚史
;
西口克
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
西口克
;
下村学
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
下村学
.
日本专利
:CN113412532B
,2024-08-23
[2]
质量分析装置及质量分析方法
[P].
桥本雄一郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
桥本雄一郎
.
中国专利
:CN112514028A
,2021-03-16
[3]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
田川雄介
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
田川雄介
;
石川勇树
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
石川勇树
.
日本专利
:CN113711025B
,2024-05-24
[4]
质量分析装置及质量分析方法
[P].
田川雄介
论文数:
0
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0
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0
田川雄介
;
石川勇树
论文数:
0
引用数:
0
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石川勇树
.
中国专利
:CN113711332A
,2021-11-26
[5]
质量分析方法以及质量分析装置
[P].
杉山益之
论文数:
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杉山益之
;
桥本雄一郎
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桥本雄一郎
;
长谷川英树
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长谷川英树
;
桥场周平
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桥场周平
;
熊野峻
论文数:
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熊野峻
.
中国专利
:CN102655074A
,2012-09-05
[6]
质量分析装置及质量分析方法
[P].
安田博幸
论文数:
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安田博幸
;
吉冈信二
论文数:
0
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0
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0
吉冈信二
.
中国专利
:CN103222031A
,2013-07-24
[7]
质量分析方法及质量分析装置
[P].
高桥和也
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
高桥和也
.
日本专利
:CN118043937A
,2024-05-14
[8]
质量分析方法以及质量分析系统
[P].
马场纪子
论文数:
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马场纪子
;
吉冈信二
论文数:
0
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0
吉冈信二
;
安田博幸
论文数:
0
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0
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0
安田博幸
.
中国专利
:CN104508474A
,2015-04-08
[9]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
西元琢真
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
西元琢真
;
王子豪
论文数:
0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
王子豪
;
古矢勇夫
论文数:
0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
古矢勇夫
;
任田浩
论文数:
0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
任田浩
;
桥本雄一郎
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
桥本雄一郎
;
杉山益之
论文数:
0
引用数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
杉山益之
.
日本专利
:CN115023787B
,2025-03-28
[10]
质量分析方法及质量分析装置
[P].
高桥秀典
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
高桥秀典
;
浅川大树
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
浅川大树
.
日本专利
:CN119072628A
,2024-12-03
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